Сканирующие зондовые микроскопы

📖 Сканирующие зондовые микроскопы

Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.

О книге

автор, издательство, серия
Издательство
Инфра-Инженерия
ISBN
978-5-9729-1731-0